Условие Вульфа-Брэгга позволяет определить межплоскостные расстояния d в кристалле, так как λ обычно известна, а углы θ измеряются экспериментально. БРЭГГА — ВУЛЬФА УСЛОВИЕ — определяет направление возникновения дифракц. Условие Вульфа-Брэгга является исходным пунктом исследований в рентгеновском структурном анализе, рентгенографии материалов, рентгеновской топографии. Выведено в 1913 независимо У. Л. Брэггом (W. L. Bragg) и Г. В. Вульфом.

Физическая энциклопедия /Гл. ред. А. М. Прохоров. При динамической дифракции величина Δθ зависит также от величины взаимодействия рентгеновского излучения с атомами кристалла.

В основе данного метода лежит явление дифракции рентгеновских лучей на трехмерной кристаллической решётке. Найдем условия образования дифракционных максимумов от трехмерной структуры.

Формула Брега-Вульфа

Если эта разница равна целому числу волн n то две волны придут в точку наблюдения с одинакомыми фазами испытав интерференцию. Такая пластинка представляет собой двумерную периодическую структуру. Дифракция наблюдается также на трехмерных структурах, т. е. пространственных образованиях, обнаружи­вающих периодичность по трем не лежащим в одной плоскости направлениям.

Проведем в направлениях, по которым свойства структуры обнаруживают периодичность, координатные оси x, y, z (рис. 5.11.1). В случае дифракции, наблюдаемой в видимом свете, это, как мы знаем, достигается с помощью линзы, в фокальной плоскости которой расположен экран.. В дальнейшем мы будем называть их атомными слоями. Если падающая на кристалл волна плоская, огибающая вторичных волн, порождаемых атомами, лежащими в таком слое, также будет представлять собой плоскость.

Плоские вторичные волны, отразившиеся от разных атомных слоев, когерентны и будут интерферировать между собой подобно волнам, посылаемым в данном направлении различ­ными щелями дифракционной решетки. В действительности дифрагированное излучение распространяется в конечном угловом интервале , причём ширина этого интервала определяется в кинематич.

Этому событию предшествовало открытие профессором Вюрцбургского университета Вильгельмом Рентгеном Х-лучей, которые называют теперь рентгеновскими. Вильгельм Конрад Рентген, немецкий физик, родился 27 марта 1845 в Леннепе близ Дюссельдорфа.

Условия Лауэ. Дифракция рентгеновских лучей. Формула Брега-Вульфа

В 1871-1873 работал в Вюрцбургском, в 1874-1875 — в Страсбургском университете. В 1901 за открытие Х-лучей Рентгену была присуждена первая Нобелевская премия по физике. Математик Плюкер (1801-1868) обнаружил в 1859г., при достаточно сильном разрежении слабо голубоватый пучок лучей, исходящий из катода, доходящий до анода и заставляющий светиться стекло трубки.

Рис. 42. Сетка Вульфа

Он обнаружил, что Х-лучи вызывают не только свечение экрана, покрытого цианоплатинитом бария, но и, после проявления, потемнение фотопластинок в тех местах, где лучи попадают на фотоэмульсию.

9 марта 1896 года В. Рентген завершил вторую статью об открытой радиации, а 10 марта 1897 года — третью (и последнюю) — “Дальнейшие наблюдения над свойствами икс-лучей”. Три работы по исследованию Х-лучей, выполненные Рентгеном в 1895 – 1896 г.г., дают хорошее представление о методах его работы. В них содержится большое количе-ство материала.

Искажения решётки кристалла в зависимости от их характера ведут к изменению угла θ, или возрастанию Δθ, или к тому и другому одновременно. Если записать это условие в виде (кп)1= пт/(1, то мы получим не что иное, как уравнение плоскости, определяющей границы зон Бриллюэна. У. Л. Брэгг показал, что поглощение и испускание рентгеновских лучей кристаллами с математической точки зрения эквивалентно отражению света от параллельных плоскостей.