Не-графитирующиеся материалы образуются из графитирующихся в результате интенсивного сульфирования и окисления. Межплоскостные расстояния da и с ( р берут из таблиц. Межплоскостные расстояния существенно изменяются не у всех углеродистых материалов даже при нагреве до 3000 С. В связи с этим В. И. Касаточкин вводит понятие о неграфитирующихся материалах.

До температуры 2500°С межплоскостное расстояние уменьшается без укрупнения кристаллитов. Условие Вульфа-Брэгга позволяет определить межплоскостные расстояния d в кристалле, так как λ обычно известна, а углы θ измеряются экспериментально. Искажения решётки кристалла в зависимости от их характера ведут к изменению угла θ, или возрастанию Δθ, или к тому и другому одновременно.

Ред. кол. Д. М. Алексеев, А. М. Балдин, А. М. Бонч-Бруевич, А. С. Боровик-Романов и др. — М.: Сов. энциклопедия. Условие (1.22), при выполнении которого возникает интерференционный максимум, и носит название формулы Вульфа—Брэгга.. Далее приведем выражения для параметров ячеек прямой и обратной решеток всех систем, их межплоскостных расстояний и объемов элементарной ячейки.

Межплоскостные расстояния мета — и орто-ниобата натрия

Этот факт позволил Ю. Н. Денисюку в качестве источника, восстанавливающего изображение света, пользоваться источником сплошного спектра (светом от солнца и даже от карманного фонарика). В данном случае голограмма из спектра с разными длинами волн выбирает нужную ей одну длину, в которой именно производилась запись, — голограмма действует подобно интерфе-pei/ционному фильтру.

Посчитать для кубической решетки ее параметр из межплоскостных расстояний — самое простое, что может быть, описано в куче книг и в интернете

Использование этого условия позволяет по положениям рентгеновских максимумов (т. е. по данным об углах 0) находить спектры межплоскостных расстояний кристаллов. На глубине до 10 мкм наблюдается значительное увеличение микронапряжений, и в слое менее I мкм их величина достигает предела текучести. Наиболее интенсивная линия, соответствующая межплоскостному расстоянию 4.07 А, близка к наиболее интенсивной линии высокотемпературной модификации крис-тобалита.

Окисная пленка, образовавшаяся при температурах 1700 и 1800 С, не дает дифракции. Она может быть разной, определяется материалом, использованным в приборе.

Но Вы найдите этот иероглиф, и сообщите форумчанам. Исходя из значения угла отклонения луча для максимума и длины волны, по формуле Вульфа-Брэггасчитаете межплоскостные расстояния.

Далее, идет более ответственная часть: этим расстояниям надо приписать индексы плоскостей кристаллической решетки. И что-то говорит мне, что решетка эта — кубическая гранецентрированная (индексы характерные). В случае чего, вы хоть расстояния посчитайте, тут на форуме с параметром разобраться Вам помогут очень быстро.

Может, я чего не так посчитал, а может, Вы. Нету соответствия при данных расстояниях кубической ячейке. Представляет собой величину, кратную расстоянию между ближайшими одинаковыми плоскостями атомов (ионов) в кристалле. РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ — невидимое излучение, способное проникать, хотя и в разной степени, во все вещества. Представляет собой электромагнитное излучение с длиной волны порядка 10 8 см. Как и видимый свет, рентгеновское излучение вызывает почернение фотопленки.

Межплоскостные расстояния синтетического и природного афвиллитов приведены в табл. 9 Приложения V. Высокая дисперсность синтетического материала препятствует измерению показателей преломления. Межплоскостное расстояние dHKL берут для отражения с учетом законов погасаний решетки кристалла-анализатора.

Межплоскостные расстояния приведены с интервалом в 0 02 градуса, что является в настоящее время пределом точности в промере рентгенограмм. Межплоскостное расстояние и сжимаемость решетки графита определяются ван-дер-ваальсовым взаимодействием только одного сорта атомов — атомов углерода в одном и том же валентном состоянии. Межплоскостные расстояния изменяются, насколько это необходимо для размещения легирующих атомов или молекул. Межплоскостное расстояние, определяемое методом рентгеноструктурно-го анализа.

Фазовые соотношения в системе SrO — — CuO — La2O3. 1 — . u2Oe -., где. Межплоскостные расстояния и интенсивности рефлексов приведены в таблице. Затем определяют постоянную кристаллической решетки ( параметры решетки) и определяют число частиц в элементарной ячейке.